FD形貌测量仪突破传统测量局限,专为高精度零件的微观形貌分析而设计,采用先进的接触式传感器技术可精准测量纳米级至微米级的表面特征。
高精度轮廓测量仪,可根据需求定制专用测量与分析模板,针对同类型零件实现一键批量测量。系统及设备设计有广泛的接口协议支持能力,确保用户能够无缝地与其他多种类型的设...
威尔高速轮廓测量仪,采用高速并行数据采集单元,硬件触发、硬件高速采样,无延时。足够密集及稳定的数据源为后期数据处理、计算提供最有力的保障!最大测量速度可达2mm...
标准型轮廓测量仪,更新迭代,优享尺寸测量,采用最新的PEEK改性复合材料作为测量基准导轨的摩材料,综合性能优异,长期使用免维护。简洁的软件架构,将测量、分析、报...
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