卓越稳定机身结构
驱动器采用创新型一体式铸造结构，一体成型工艺提升结构整体性，搭配高刚性大理石立柱体，有效提升设备的隔振性能，减少外界振动对测量的影响，保障设备长期测量精度与使用寿命。
纳米级高精度传感器
配备高精度传感器，X轴与测头分辨率均高达1.2nm，测量精度达到高精度水平，能够精准捕捉零件表面的细微轮廓与粗糙度差异，测量数据精准可靠，满足高端测量需求。
一键全参数同步分析
搭载Profile Tracer 4.0智能测量软件，操作便捷，一次测量即可同步完成表面尺寸、轮廓度、波纹度及粗糙度的全面分析，自动生成规范报告，大幅提升测量效率。
| 行程长度 | 0.1-130mm | |
| 距离测量显示误差EA（MPEEA）1 | ±（1+L/150）μm | |
| 半径测量显示误差Rk（MPER）1 | R≤10mm ：±1μm 10mm<R≤20mm： ±(0.17+R/12)μm | |
| 残余误差2 | 1.8nm | |
| 测量速度 | 轮廓测量速度 | 0.02-2mm/s |
| 粗糙度推荐测量速度 | 0.1mm/s-0.5mm/s | |
| X方向取样间距 | 0.02μm至50μm，可调整 | |
| 每次测量最多测量点 | 7500000点 | |
| X轴分辨率 | 1.2nm | |
| 测头测量范围 | 15mm | |
| 测头分辨率 | 1.2nm | |
注：
1、所有的信息参考VDI/VDE 2629文件1-MPE最大允许误差。长度L和半径R以mm为单位。
2、测量和评价条件按照DIN EN ISO 3274，Lc=0.25mm，Lc/Ls=100，测量速度V=0.1mm/s时的残余误差。
精密测量解决方案提供商
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